核心零部件
DUV光刻机也能造3nm芯片!中科院GAA晶体管重大突破:绕开EUV光刻机
📋总体概括
中国科学院公布一种新型全环绕栅极(GAA)晶体管架构,采用DUV光刻机制造,实现开关比超过50万倍,理论上可解锁3nm等效性能。传统DUV经多重曝光和浸没式工艺通常只能做到7nm级别,该架构通过放宽晶体管间距保持性能,绕开了对EUV光刻机的依赖。不过该突破目前仅解决前道FEOL环节,中道金属互连与后道M0层布线瓶颈仍未突破,距离实际量产芯片尚有距离。
⚡关键信息
- ▸中科院公布新型GAA晶体管架构,用DUV光刻机制造,开关比超过50万倍
- ▸理论上可解锁3nm等效性能,而传统DUV通常只能做到7nm级别
- ▸GAA栅极四面包裹电流通道,对电流控制远优于FinFET,几乎杜绝漏电
- ▸突破仅覆盖前道FEOL环节,中道MEOL互连和后道BEOL布线瓶颈仍未解决
- ▸验证了缺少EUV条件下中国芯片从DUV向先进制程逼近的可行路径
🔥犀利点评
别急着欢呼「DUV造3nm」——开关比超过50万只是晶体管本征特性,离一片能跑的芯片隔着MEOL互连、BEOL布线和良率三座大山,多重曝光下晶体管间距放宽还可能反噬密度优势。但方向值得肯定:在EUV被卡死的现实下,用架构创新换工艺空间,是唯一理性打法。这是理论窗口,不是量产宣告,媒体标题党成分不小。
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